跳到主要內容
VSK 威視康 — Cognex 官方授權 PSI 系統整合商
INDUSTRY · OPTOELECTRONICS

光電機器視覺解決方案

面板檢測、光學元件量測、表面瑕疵

VSK 協助評估 Cognex 康耐視的光電 AOI(自動光學檢測)與定位配置:

  • TFT-LCD/OLED 面板:Mura 外觀與色差檢查
  • LED:亮度均勻度影像檢查
  • Mini LED:元件定位與對位
  • 玻璃與光學元件:可見刮痕、裂紋及表面瑕疵
  • 成像評估:透明、反光與自體發光工件須分別確認條件
SECTION 01

光電視覺檢測:面板、LED、ITO、元件對位與玻璃邊緣

檢測重點

光電產線的面板、發光元件與透明材料,需要不同的取像方式。先確認缺陷能否在影像中看清,再選擇外觀檢查、定位或量測工具。

LED 均勻度

亮暗與色彩

固定曝光與拍攝條件

Mini LED 對位

位置與角度

以圖面公差驗證定位結果

ITO 表面檢查

可見缺陷

膜厚與電阻另用對應量測設備

  • 面板 Mura:檢查可見的亮暗不均與表面異常。
  • LED 模組:檢查亮暗點與影像均勻度;色度量測另確認校正方法。
  • ITO 鍍膜:檢查可見針孔、刮痕與表面異常,不以相機代替膜厚或電阻量測。
  • Mini LED:定位元件與基準點,輸出位置、角度偏差。
  • 顯示面板玻璃:檢查邊緣缺角與可見裂紋。

〔產品資料〕Cognex In-Sight 9000、7000 系列型錄;VisionPro 10 型錄與 VisionPro Deep Learning 工具說明。

SECTION 02 / SELF-AUDIT

3 分鐘自評:光電顯示視覺整合卡在哪一條(12 題 yes/no)

勾選已確認的項目,整理取像、判定與產線整合需求。

進度0 / 12

Q1 · 取像與檢查

Mura、亮暗點及玻璃缺角等檢測項目已分開定義

Q2 · 取像與檢查

透明、反光與發光工件的拍攝方式已確認

Q3 · 取像與檢查

有代表性的正常、異常及可接受邊界樣本

Q4 · 取像與檢查

視野、最小缺陷與像素數已一起確認

Q5 · 判定與驗證

對位公差已依圖面設定,並確認鏡頭與校正方法

Q6 · 判定與驗證

液晶/LED 的影像檢查與色度量測已分工

Q7 · 判定與驗證

定位與瑕疵工具已涵蓋產品角度及批次變異

Q8 · 判定與驗證

需量高度時,工件能取得完整的 3D 輪廓

Q9 · 資料與整合

判定門檻、版本與校正紀錄可追溯

Q10 · 資料與整合

誤判、漏判及產線節拍已有驗證方法

Q11 · 資料與整合

異常處置與 PLC 訊號已確認

Q12 · 資料與整合

檢測結果可連結產品批號及 MES/ERP 紀錄

光電視覺檢測 — 五大任務與選型重點

光電視覺檢測 — 五大任務與選型重點
檢測任務 應用情境 設備方向 檢查內容 選型重點
面板 Mura TFT-LCD/OLED 可見亮暗不均 VisionPro Deep Learning 表面異常區域 固定顯示圖樣、曝光與判定樣本
LED 均勻度 點亮後的亮暗點與色彩差異 彩色 In-Sight 相機 影像亮暗與顏色比較 絕對亮度/色度另確認校正設備
ITO 表面瑕疵 可見針孔、刮痕與鍍膜異常 2D 相機/VisionPro Deep Learning 影像中的表面異常 不替代膜厚或方塊電阻量測
Mini LED 對位 元件與基準點定位 In-Sight 9912/PatMax 位置、角度偏差 視野、像素、鏡頭與圖面公差
玻璃邊緣 顯示面板缺角與可見裂紋 In-Sight/VisionPro Deep Learning 邊緣完整性 光源方向與裂紋可見度

依檢查內容分配取像、判定與量測工站,不以一台相機涵蓋所有要求。

SCENARIOS · 應用情境詳解

光電產業 · 2 大應用情境

依你的產線需求,Cognex 機型與 VSK 服務對應如下。每個情境提供 對應機型 + 熱門案例,點擊右下角可看全部光電案例。

◆ 焊道 / 縫隙 / 平面度 / 體積量測

3D 雷射量測

對應機型:In-Sight L38 / 3D-A5000 / 3D-A1000
看全部光電案例 →
◆ 對位 / 貼合 / 元件放置

組裝定位

對應機型:In-Sight 3800 / VisionPro PatMax
看全部光電案例 →
TASK 01 / 5

面板 Mura 檢查 — 可見亮暗不均與表面異常

檢測內容

先固定顯示圖樣、曝光與拍攝位置,再檢查區域亮暗不均。VisionPro Deep Learning 可評估變化較大的表面異常;判定需區分可接受的顯示差異與缺陷。

選型重點

取像條件

顯示圖樣與曝光一致

避免拍攝差異被判為 Mura

樣本準備

正常、異常及邊界樣本

涵蓋不同批次與亮度變化

AI 工具

Red Analyze 檢測異常區域

若需缺陷分類,可另搭配分類工具

驗收重點

誤判與漏判

用未參與訓練的影像驗證

設備選型

可評估 VisionPro Deep Learning Red Analyze 搭配高解析相機。先取得清楚、穩定的面板影像,再決定工具與處理配置。

〔產品資料〕Cognex VisionPro 10 型錄 p.3;VisionPro Deep Learning 工具說明。

TASK 02 / 5

LED 均勻度檢查 — 亮暗點與影像色彩比較

檢測內容

LED 點亮後,可在固定曝光與取像條件下比較亮暗區域、失光點與顏色差異。影像顏色比較不等同校正後的色度或絕對亮度量測。

選型重點

亮暗點

點亮狀態與影像均勻度

曝光須避免亮區飽和

顏色比較

彩色影像與核准樣本比對

固定拍攝、曝光與色彩條件

計量需求

色度、亮度與校正方法

有物理量要求時使用對應量測設備

判定基準

產品規格與可接受差異

不套用通用色差或均勻度門檻

設備選型

可評估 In-Sight 7905 彩色配置 或 In-Sight 9912C;視野與像素依模組大小選擇。色度/亮度數據須另外確認量測與校正方式。

〔產品資料〕Cognex In-Sight 7000、9000 系列英文/繁中型錄。

TASK 03 / 5

ITO 鍍膜表面檢查 — 針孔、刮痕與可見異常

檢測內容

先確認透明膜層的缺陷能否形成可辨識的影像,再評估針孔、刮痕與表面異常檢查。膜厚與方塊電阻屬不同量測任務,不由一般 2D 相機或 L4000 雷射輪廓結果直接判定。

選型重點

檢查內容

可見針孔、刮痕與表面異常

先確認缺陷與背景的對比

取像方式

光源方向與反光控制

透明材料須比較不同照明配置

判定工具

規則式或 AI 瑕疵檢查

按缺陷形狀及背景變化選擇

工站分工

表面影像、膜厚與電阻

需要膜厚/電阻時另定量測設備

設備選型

表面影像可評估 In-Sight 2D 相機 或 VisionPro Deep Learning。膜厚、導電性與表面外觀應分別列入需求。

〔產品資料〕Cognex VisionPro Deep Learning 工具說明;In-Sight 3D-L4000 2025 型錄 p.1–2(3D 雷射位移與輪廓工具)。

TASK 04 / 5

Mini LED 對位 — 元件位置與角度核對

檢測內容

以元件外形或基準點定位,計算位置與角度偏差。PatMax 用於圖案定位;實際對位精度需連同視野、鏡頭、校正及機構重複性驗證。

選型重點

定位基準

元件外形或基準點

確認特徵清楚且不受遮擋

視野與像素

最小特徵與檢查區域

以相機解析度與鏡頭共同選配

判定公差

依圖面設定位置與角度

不以子像素算法直接保證微米精度

動作整合

座標轉換與機構重複性

須包含取像、定位與移動誤差

設備選型

In-Sight 9912 為 12 MP 面掃描相機,可評估搭配 PatMax RedLine 做大視野定位。鏡頭與視野依元件尺寸及公差選擇。

〔產品資料〕Cognex In-Sight 9000 系列英文/繁中型錄 p.1、3、5。

TASK 05 / 5

玻璃邊緣檢查 — 缺角、裂紋與刮痕

檢測內容

檢查玻璃邊緣是否有缺角、可見裂紋或刮痕。先用光源角度與背景控制提高對比;形狀穩定可用規則式檢查,變異較大的表面異常可評估 AI。

選型重點

邊緣完整性

缺角、裂紋與刮痕

分開定義位置與可接受範圍

取像條件

背光、暗場或低角度光源

比較哪些配置能看清實際缺陷

判定工具

邊緣檢查或 Red Analyze

Blue Locate 用於定位,不是異常檢測工具

產線速度

曝光、搬送與處理時間

以實際工件節拍驗證

設備選型

可評估 In-Sight 相機 搭配合適光源;需要 AI 異常區域檢測時,評估 VisionPro Deep Learning Red Analyze。

〔產品資料〕Cognex VisionPro Deep Learning 工具說明;VisionPro 10 型錄 p.3。

SECTION 01 / CHALLENGES

光電典型應用 — 面板瑕疵 AI / LED 均勻度 / 微元件對位

VSK 整理光電取像與檢測常見問題。

玻璃/透明物件

透明玻璃與膜層的缺陷對比低,需比較光源、背景與拍攝角度。

反光表面

鏡面反光容易遮住缺陷,須控制光源角度與偏光配置。

細微瑕疵

最小缺陷與視野決定所需像素;高解析不直接等於奈米級檢測。

自體發光物件

LED 點亮時須控制曝光、飽和與顯示狀態。

潔淨環境

相機、線材及機構的安裝方式,須配合廠內潔淨與污染管制要求。

SECTION 02 / APPLICATIONS

光電外觀檢查:規則式與 AI 如何分工?

面板 Mura 檢查

可見亮暗不均及表面異常,可評估 AI;顯示圖樣與曝光須固定。

RECOMMENDED

ViDi →

光學元件外觀與組裝

檢查光學元件的可見外觀及組裝位置;透明曲面的 3D 量測需先確認成像。

太陽能板可見外觀檢查

檢查可見裂痕、污染與焊點外觀;內部或不可見缺陷需另外的取像/檢測方法。

SECTION 02 / 光源戰爭

光電取像:五種常見問題

光源、曝光與產品表面特性會直接影響缺陷是否看得見。先把影像拍清楚,再選算法。

錯位 1 · 雷雕字 OCR

雷雕文字對比

比較同軸、低角度及偏光配置,確認雷雕邊緣與背景的對比。

錯位 2 · 玻璃破片

玻璃邊緣對比

比較背光、暗場與低角度光,找出能呈現缺角或裂紋的方向。

錯位 3 · CCD 模組檢光

LED 點亮狀態

固定點亮狀態與曝光;若需校正後的色度數據,另外確認量測設備。

錯位 4 · 高反射玻璃

高反射表面

先控制反光方向與曝光,避免亮區飽和遮住缺陷。HDR 不是所有機型共通功能。

錯位 5 · 多 SKU 產線

多產品配方切換

每個產品配方保存對應光源、曝光及判定設定,並驗證切換後的影像。

SECTION 04 / AUDIT 流程

光電視覺需求評估:五個步驟

按工站確認樣本、取像、判定、介面與驗收方式。

STEP 1 · Lighting Test

取像與樣本

整理正常、異常及可接受邊界樣本,比較鏡頭、光源與曝光。

STEP 2 · Algorithm 測試

選擇判定工具

形狀與門檻明確時先評估規則式;高變異紋理再評估 AI 工具。

STEP 3 · ISO 評等校正

確認驗收要求

尺寸、色彩及瑕疵各自設定判定基準;有條碼品質要求時,再安排對應驗證器。

STEP 4 · 機構整合

設備與資料整合

確認視野、工作距離、安裝空間、觸發與 PLC/MES 資料格式。

STEP 5 · 產線並行驗證

驗證與紀錄

以代表性產品驗證誤判、漏判、節拍與異常處置,保存設定與驗收紀錄。

SECTION / 驗收條件

光電檢測與驗收條件

CHECK 瑕疵判定

缺陷範圍、可接受邊界與正常變異

依客戶品管標準設定

CHECK 定位公差

基準點、位置與角度公差

依產品圖面與校正結果設定

CHECK 色彩量測

影像比較或校正後的亮度/色度數據

先區分檢查與計量需求

CHECK 產線節拍

曝光、觸發、搬送與判定時間

以實際產線節拍驗證

CHECK 資料紀錄

影像、結果、批號及設定版本

按品質管理流程保存

提供圖面、檢測項目與代表性樣本,可更快確認設備配置。

SECTION / 應用類別

光電常見檢測與定位配置

偏光板對位 / 貼合

技術 定位基準點與元件位置

Cognex In-Sight 9912/PatMax

玻璃裁切尺寸量測

技術 可見裁切邊緣與尺寸

Cognex In-Sight 2D 相機/邊緣量測

印刷對位 + 色差 batch QC

技術 印刷位置與影像顏色比較

Cognex In-Sight 7905 彩色配置

玻璃磨邊 / 倒角量測

技術 能可靠成像的表面輪廓與高度

Cognex In-Sight 3D-L4000;透明材料先確認成像

畫素 dead pixel 偵測

技術 可見亮暗點與表面異常

Cognex In-Sight 高解析相機/VisionPro Deep Learning

依產品尺寸、缺陷、反光與搬送方式選擇取像及判定工具。

SECTION / Cognex 方案

Cognex 光電檢測設備選型

ViDi Red

Red Analyze:表面異常區域;分類另用分類工具

〔產品資料 · VisionPro Deep Learning 工具說明〕

In-Sight 7905 彩色配置

彩色影像中的顏色比較

〔產品資料 · In-Sight 7000 系列型錄〕

In-Sight 3D-L4000

可見表面輪廓、高度與間隙

〔產品資料 · In-Sight 3D-L4000 2025 型錄〕

In-Sight 9912 + PatMax

12 MP 面掃描與圖案定位

〔產品資料 · In-Sight 9000 系列型錄〕

In-Sight + VisionPro Deep Learning

玻璃邊緣取像與可見缺陷檢查

〔產品資料 · VisionPro Deep Learning 工具說明〕

與 VSK 工程師討論視野、缺陷大小與產線節拍,確認相機及光源配置。

SECTION 09 / FAQ

Cognex 光電面板 AI 常見問題(工程師 Q&A)

Q:玻璃 / 透明物件視覺檢測為什麼難?

透明材料的缺陷對比低,反光也可能遮住特徵。需比較背光、暗場、偏光與拍攝角度,確認要檢查的缺陷能在影像中看清。

Q:面板 Mura 用 AI 視覺真的能解嗎?

可以評估 AI,但先要拍出穩定的面板影像,並定義可接受的亮暗差異。用正常、異常與邊界樣本訓練,再以獨立樣本檢查誤判與漏判。

Q:LED 點亮測試相機需要什麼規格?

先確認視野、最小亮暗點、點亮狀態與曝光。亮區不能飽和;需要色彩比較時選彩色配置,有亮度/色度物理量要求時另確認校正方法。

Q:In-Sight 9000 系列在光電場景怎麼選?

In-Sight 9912 是 12 MP 面掃描相機,適合大視野細節檢查與定位;9902L 是線掃描機型,須配合搬送與取像時序。先依視野、缺陷大小和工件運動方式選擇。

Q:太陽能板表面檢測規則式 vs AI 哪個準確率高?

形狀與判定門檻穩定時可用規則式;紋理或缺陷變化大時再評估 AI。先確認缺陷可見度,In-Sight D900 與 PC 型 VisionPro Deep Learning 可依工具及處理需求比較。

Q:光電業導入視覺系統的預算大概要多少?

預算取決於相機、鏡頭光源、安裝環境及整合範圍。提供檢查項目、產品尺寸和節拍後,可先確認需要哪些設備與工站。

Q:VSK 提供哪些光電業視覺服務?

VSK 是 Cognex 台灣 PSI 認證整合商,可協助設備選型、鏡頭光源與產線整合規劃。安裝、訓練與保固範圍依報價及合約確認。

Q:想看實際光電導入案例該去哪?

可到業界案例選擇「光電」篩選,再依檢測任務查看相關配置。

Q:面板 Mura 檢查要準備哪些樣本?

準備不同批次的正常面板、異常面板及可接受邊界樣本,保持顯示圖樣和曝光一致。瑕疵位置、形狀與亮度變化都應涵蓋。

Q:LED 亮度與顏色均勻度檢測?

固定點亮與曝光條件,比較亮暗區域、失光點及顏色差異。若驗收需要 cd/m² 或色度座標,須另確認量測設備與校正流程。

Q:ITO 鍍膜瑕疵 AI 檢測技術?

先確認透明膜層的針孔、刮痕或表面異常是否可見,再選光源與判定工具。膜厚及方塊電阻須由對應量測設備取得,不由相機外觀結果代替。

Q:Mini LED / Micro LED 對位精度需求?

依元件尺寸、基準點與產品圖面設定公差。定位算法、鏡頭、視野、校正和機構重複性共同影響精度,不能只看子像素功能。

Q:光電工站需要 2D 還是 3D 視覺?

可見外觀、文字與平面定位先評估 2D;高度、間隙與表面輪廓再評估 3D。透明或鏡面材料須先確認能否取得可靠的輪廓。

Q:光電視覺系統如何設定驗收條件?

分別列出最小缺陷、可接受邊界、定位公差、誤判/漏判及節拍。需要膜厚、電阻、亮度或色度數據時,另列量測與校正要求。

SECTION 05 / DEEP DIVE

VSK Cognex 代理 — 光電產業視覺整合方案

PRODUCT LINES · 依產品線探索

APPLICATIONS · 依應用情境探索

光電產業機器視覺 主題深入閱讀

SERVICE AREAS

光電產業 · 北部主要服務區域

北台灣光電產業聚落深度耕耘: