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SEMI T7 · T7 CODE

SEMI T7 是雙面研磨矽晶圓背面雷射蝕刻的 2D DataMatrix 標識規範 —— 8 列 × 32 行 dot 陣列、內建 Reed-Solomon 錯誤更正、適用 300mm 與 450mm 晶圓、業界俗稱 T7 CODE

直答:SEMI T7 是 SEMI 發布的雙面研磨晶圓背面 2D matrix code 標記規範,業界常稱 T7 CODE。它定義的是標識,不是讀取器型號,也不保證每一種表面與成像條件都能直接讀取。

下一步:要導入 Wafer ID,還要核對標識品質、表面/塗層、工作距離、照明、讀取規則與設備通訊。

SEMI T7 是什麼?(完整定義)

SEMI T7(正式全名:SEMI T7 — Specification for Back Surface Marking of Double-Side Polished Wafers with a Two-Dimensional Matrix Code Symbol)由國際半導體產業協會 SEMI 官方 發布、定義的是雙面研磨矽晶圓(Double-Side Polished Wafer)背面雷射蝕刻 2D DataMatrix 條碼的幾何形狀、大小、內容規範。

版次說明:SEMI 官方商店目前列示的最新修訂紀錄為 SEMI T7-0516(2022 年再確認版);SEMI T7-0302 為歷史修訂版。實際專案應以客戶規範與採用的標準文件版次為準。

此標準 相容於 Data Matrix ISO/IEC 16022 ECC200、內建 Reed-Solomon 錯誤更正、即使晶圓表面因 CMP(Chemical Mechanical Planarization)拋光、edge bead、蝕刻等製程導致標識部分退化、仍可透過錯誤更正還原完整資訊。

為什麼半導體業要用 T7 CODE? T7 用一致的 2D matrix code 標識承接晶圓身分與追溯資料;是否能穩定讀取,仍受標記品質、表面、塗層、工作距離與照明影響。

SEMI T7 規格總覽

項目規格
標準版本SEMI T7-0516(2022 年再確認版);實際採用版次依客戶規範與所購標準
條碼類型2D Data Matrix(ECC200、Reed-Solomon 錯誤更正)
符號尺寸8 rows × 32 columns dot 陣列(矩形、非正方形)
符號寬度約 1 mm × 高度約 4 mm(依模組尺寸)
適用晶圓300 mm / 450 mm 雙面研磨矽晶圓(Double-Side Polished)
marking 位置晶圓背面(back surface)固定 quality area 內
marking 方式雷射蝕刻(laser scribing)
相容 SEMI 標準相容 SEMI M1(矽晶圓規格)、與 SEMI OCR 字型可並用

來源:SEMI T7 官方標準頁與修訂紀錄 + Cognex In-Sight 1740 Series 中文 datasheet(Lit. No. ISDS-1006-02-2025)

T7 CODE 跟一般 DataMatrix 有什麼不同?

兩者的核心編碼技術都是 Data Matrix ECC200、但 T7 是 SEMI 為半導體晶圓特別客製化的子集

面向SEMI T7一般 DataMatrix ECC200
符號形狀固定 8×32 矩形10×10 到 144×144 多種可選
marking 位置晶圓背面固定 quality area任意位置
應用產業半導體晶圓專用通用(醫療、汽車、電子、藥品 UDI 等)
推薦讀取器Cognex In-Sight 1740 系列(IS1741 / IS1742Cognex DataMan 280 / 380 / 470 系列
產線速度wafer sorter / prober tool 節拍依型號、碼質、視野與實際產線條件確認

SEMI wafer 標識標準家族相互關係

SEMI T7、M12、M13、T2 與 M1 涵蓋不同的標識類型或晶圓規格,不能把它們視為同一套標準的上下層,也不能只由名稱推定必須並用:

SEMI 標準 現況 / 主題 與 T7 的關係 選型判讀
SEMI T7 SEMI T7-0516 的 2022 年再確認版;雙面拋光矽晶圓背面矩形二維機讀碼 本頁主題;適用符合 SEMI M1 的 300 mm/450 mm 晶圓 商品頁的 current 選項與 revision history 對再確認月份有不同標示,實際版次以客戶採用或所購文件為準
SEMI M12-0523 晶圓正面序號式英數標記,用於個別晶圓識別、追蹤與管制 獨立的英數標記規範;不包含 SEMI M13 的晶體性質編碼 Cognex In-Sight 1740 系列原廠 datasheet 將 SEMI M12 OCR 列為讀取用途之一;是否與 T7 同站使用取決於實際標記與 fab 規範
SEMI M13-0523 矽晶圓英數標記,包含來源、約略電阻率、摻雜物種類、晶體成長方向與 wafer ID 不是 T7 子集,也不能簡化成「小字型版本」 是否出現在工件上及如何讀取,應依客戶/fab 實際規範與樣本確認
SEMI T2-0298E 歷史上的晶圓二維點矩陣標記規範;SEMI 官方目前標示為 Superseded 不是 OCR 字型標準,也不是 T7 的母標準 遇到舊設備或既有規範時,先確認客戶實際引用的版次與標記
SEMI M1-0924 拋光單晶矽晶圓的尺寸與共同特性規範 T7 公開摘要要求相關晶圓符合 SEMI M1;M1 本身不是條碼類型 SEMI 官方 T7 修訂文件指出 M1.15 已不存在;不應當成現行 wafer identification 整合標準

來源:SEMI 官方商品頁與標準狀態;完整規範需向 SEMI 取得。實際採用版次與是否並用,依客戶/fab 文件為準。

若要比較 T7、M12、M13 與設備導入條件,請看 Wafer ID 條碼追溯指南

T7 CODE 讀取硬體推薦

Cognex In-Sight 1740 系列 出廠即支援 SEMI T7 DataMatrix 讀取;原廠將 IS1741 定位為多數 OCR、T7 Data Matrix 與條碼讀取應用。系列三個型號:

來源:Cognex In-Sight 1740 Series datasheet(Lit. No. ISDS-1006-02-2025)

SEMI T7 常見問題 Q&A(工程師 FAQ)

Q1:T7 CODE 跟 SEMI T7 是同一件事嗎?
「T7 CODE」是市場上常見的簡稱;SEMI 官方標準名稱為 SEMI T7 — Specification for Back Surface Marking of Double-Side Polished Wafers with a Two-Dimensional Matrix Code Symbol。採購、驗收或設計時仍應確認實際引用的標準版本。
Q2:SEMI T7 一定是 8×32 dot 嗎?
不能只從「SEMI T7」名稱判定矩陣尺寸與細節。公開的 SEMI 商品頁只提供標準名稱與適用主題;精確 rows、columns、dot 尺寸、位置及容差應以實際採用版本的正式標準文件為準。
Q3:T7 CODE 讀不到要怎麼排解?
先確認標識是否符合採用的標準版本,再依序檢查焦距與工作距離、明視場/暗視場設定、曝光與對比、標識表面狀態,以及讀碼設定。不要把單一像素數或固定光源當成所有晶圓的保證條件。詳見 T7 讀取失敗排解步驟
Q4:一般 DataMan 條碼讀取器可以讀 T7 嗎?
T7 屬於二維矩陣碼標識,但「能解碼」不等於在特定晶圓表面、視野與設備介面下適用。In-Sight 1740 系列是原廠 wafer reader 系列,提供軟體控制的明視場/暗視場照明與半導體設備協定;實際仍須依樣本與設備條件比較。
Q5:SEMI T7 只適用 300mm 晶圓嗎?450mm 呢?
公開的 SEMI 商品頁標示其主題為雙面研磨晶圓背面二維矩陣碼標記,但未在公開摘要中列出所有尺寸條件。300 mm、450 mm 或其他適用限制,應以實際採用版本的正式標準文件判定。
Q6:T7 讀取除了 DataMatrix 還會用到什麼?
晶圓識別也可能包含 SEMI OCR 或其他標識。是否採用雙標識、先後順序與失敗處理,須依設備流程與工件設定設計;沒有實測資料時,不宣稱固定讀取率或提升幅度。詳見 SEMI OCR checksum 指南
Q7:VSK 有 SEMI T7 讀取器可以評估嗎?
VSK 可依 wafer marking、塗層、工作距離、照明與設備介面需求,協助討論 Cognex In-Sight 1740/1741/1742 的選型條件。聯絡 VSK 工程師 →

需要 SEMI T7 讀取解決方案?

VSK 是 Cognex 官方 PSI 認證代理、提供 In-Sight 1741 晶圓讀碼器完整選型 + 整合服務。