SEMI OCR Checksum 設定與 Pass/Fail 判斷指南

晶圓 ID 誤讀可能造成身分或製程資料對應錯誤。SEMI checksum 用來核對字串附帶的校驗字元，協助檢查讀取一致性；它不是防止所有誤讀的保證。

• 未做適用的 checksum 檢查：少了一項字串校驗，仍須依門檻及設備端規則檢查結果。
• 使用適用的 checksum：可檢出不一致，但多字元誤讀仍可能通過 SEMI；異常處理須配合設備端流程。

Cognex In-Sight 1741 / 1742 內建 Checksum 選項，必須先依實際標識設定；不是所有 wafer OCR 一律自動套用 SEMI。

以下區分 SEMI OCR 字型與標識標準；字元集合及長度應依實際標識與 Field String 確認：

來源：Cognex In-Sight 1740 Series datasheet Lit# ISDS-1006-02-2025 讀碼能力章節

Cognex In-Sight 1741 / 1742 已提供 SEMI Checksum 驗證，工程師不需另寫演算法；只對含 SEMI checksum 的 OCR 標識選 SEMI 或 SEMI with Virtual。未附此 checksum 的字串，依原廠建議選 Virtual。

設定來源：Cognex Wafer ID〈Determine the Appropriate Checksum for Reading SEMI OCR〉及〈Pass SEMI Checksum Despite Misreading of SEMI OCR〉（2024）。可與 VSK 工程師討論標識格式與設定。

Cognex In-Sight 1741 wafer OCR 排查時，分開核對字元門檻、接受門檻與 Checksum 配置：

1. 字元門檻（Character Threshold）：逐字核對目前 Job 的門檻，不能只看接受分數。
2. 接受門檻（Accept Threshold）：依目前 Config 的設定判讀，不自行假設為字元分數的平均值。
3. Checksum：依標識選 SEMI、SEMI with Virtual 或 Virtual，並核對 Field String。

判讀方式：使用目前 Job／Config 的門檻及所選 Checksum 規則。注意：SEMI checksum 通過不保證沒有多字元誤讀，仍要核對已知字串及設備端資料。

兩個常被工程師搞混：

• 讀取分數 (OCR Score)：0-100、單字符信心值、看的是「像不像這個字元」
• Checksum：核對所選校驗規則，不能單獨證明晶圓身分正確。

可能組合：顯示分數高但 Fail，應查逐字 Character Threshold 或錯配的 Checksum；SEMI checksum 已 Pass 但字串誤讀，可評估 SEMI with Virtual 及較嚴格的 Character Threshold。不要僅憑高分或 checksum 結果判定真實字串。

1. 檢查 Checksum 設定：確認實際標識是否含 SEMI checksum，再選 SEMI／SEMI with Virtual／Virtual。
2. 記錄失敗設定：記錄 Config、逐字分數及現用門檻，逐項核對失敗原因。
3. 檢查字元分數：字元分數未達 Character Threshold 時，先調整光源、焦距與成像條件。
4. 檢查接受門檻：使用目前 Accept Threshold 及 Config 結果，避免自行重算平均值。
5. 檢查校驗字元：選 SEMI 驗證時核對 Field String 的 C、S；若多字元誤讀仍 Pass，可評估 SEMI with Virtual。