微米級精度要求
Wafer 表面瑕疵小至數微米,需要高解析相機 + 專業光源設計。
半導體產業機器視覺涵蓋 IC 載板追溯、Wafer OCR、晶圓微米檢測,對應 Cognex DataMan、In-Sight D900、ViDi 機型。
VSK 服務半導體超過十年,整理出最常見的視覺檢測痛點。
Wafer 表面瑕疵小至數微米,需要高解析相機 + 專業光源設計。
IC 載板每秒處理數件,視覺系統必須在 100ms 內完成讀取與判定。
雷射蝕刻、噴墨打標的 DataMatrix 條碼對比度低、變形大,傳統讀碼器失敗率高。
設備必須符合無塵室規範(粉塵發塵量、清潔度),相機外殼材質、線材都有要求。
每片 wafer / IC 載板需獨立追溯記錄,視覺系統要與 MES 系統整合。
半導體製程對靜電敏感,視覺設備接地、ESD 防護必須符合規範。
在 IC 載板上讀取雷射打標的 2D 條碼,串接 MES 系統建立追溯記錄。VSK 已導入多家半導體封測廠。
RECOMMENDED
Cognex DataMan 280 →Wafer 表面雷射蝕刻字元辨識,對比度低、字元變形大。AI 深度學習解決傳統 OCR 失敗的場景。
RECOMMENDED
Cognex In-Sight D900 →微米級劃痕、污染、缺陷檢測,需高解析相機 + AI 演算法分類。
RECOMMENDED
VisionPro ViDi →Flip-chip、Wafer-level packaging 的 bump 高度量測,3D 雷射方案精度 ±0.01mm。
RECOMMENDED
Cognex 3D-A5000 →BARCODE READER
高性價比固定式讀碼器。
WHY THIS MODEL
IC 載板雷射 DataMatrix 高速追溯首選,HotBars + 2DMax 演算法應對 DPM。
AI DEEP LEARNING
一體化 AI 邊緣視覺。
WHY THIS MODEL
Wafer 字元 OCR 與表面瑕疵 AI 分類,無需外接 GPU,邊緣推論延遲低。
3D LASER
高解析 3D 量測。
WHY THIS MODEL
先進封裝 bump 高度量測精度 ±0.01mm,符合半導體精度要求。
不行。無塵室設備需通過 Class 100 / Class 1000 認證,VSK 提供無塵室規格相機選型與認證文件協助。
傳統 OCR 對低對比、變形字元失敗率高。VSK 建議改用 In-Sight D900 AI OCR,並提供樣本收集與模型訓練顧問。
Cognex 支援 Ethernet/IP、PROFINET、Modbus TCP 等工業協定,PLC / MES 介接由客戶或系統整合商規劃實作。
不建議。IC 載板 DataMatrix 高速讀取首選 DataMan 280(HotBars + 2DMax 演算法、產線速度快);Wafer OCR 字元辨識首選 In-Sight D900(AI 邊緣視覺、處理低對比變形字元)。兩種應用的演算法本質不同,分別用對應機型成功率最高。
建議 Cognex 3D-A5000 高解析 3D 量測,實際精度依工作距離與機型配置而定(以 datasheet 為準)。VSK 可依您的 bump 尺寸、視野、節拍需求協助選型,提供樣品 3D 實測。
依配置而定(無塵室規格、機型解析度、ESD 防護、MES 整合複雜度都影響預算),VSK 提供免費 ROI 試算與分階段導入規劃。
VSK 為 Cognex 台灣官方授權 PSI 系統整合商(證書編號 GCPSIFY25S33),提供:(1) 機型選型諮詢;(2) Wafer / IC 載板樣品實測;(3) 燈光鏡頭設計建議;(4) 整合上線(依專案);(5) 教育訓練(依專案客製);(6) 設備保固 1 年(自出貨日起算)。
請前往 業界案例 並選擇「半導體」產業篩選,可看 VSK 累積的 IC 載板追溯、Wafer OCR、晶圓瑕疵檢測、先進封裝量測等導入案例。
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VSK 工程師熟悉半導體產線需求 — 提供免費評估、樣品照片分析、整合上線、操作教育訓練。
CERTIFIED
Cognex 官方授權 PSI 系統整合商
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10+ 年台灣製造業服務
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100+ 業界導入案例