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VSK 威視康 — Cognex 官方授權 PSI 系統整合商
光電 2018/12/19

電子光電業 Tray 盤 Gap 間距 µm 級 CCD 量測檢測 - Cognex In-Sight 3800

機器視覺系統│電子光電業│Tray 盤 Gap 間距 µm 級 CCD 量測檢測│

COGNEX IN SIGHT 3800 應用於光電 / 顯示產線視覺檢測,協助達成品質追溯、降低召回風險、提升檢出率與產能釋放。

KEY RESULTS · 關鍵成效

Gap 量測精度

導入前

人工目檢無法察覺

導入後

5-20 µm 重複性

從無到有

取料機 OEE

導入前

60-70%

導入後

85-95%

+15-25 pp

檢測速度

導入前

60-120 件/分

導入後

300-500 件/分

3-5 倍

人力配置

導入前

2-3 名 QC

導入後

0.5-1 名

年省 NT$ 100-180 萬(視個案評估)

VIDEO · 類似應用影片

類似應用影片

影片來源:VSK 威視康 YouTube 頻道(同類應用參考,非本案實機影像)

CHALLENGE · 產線挑戰

電子光電業 Tray 盤(連接器 / LED 模組 / IC 載板 / PCB 載盤)堆疊間隙因模具老化或夾持變形造成 Gap 異常,自動取料設備(SCARA 機械手 / 視覺定位機)無法正常吸取,產線停機 + 元件損傷雙重風險;傳統人工目檢 µm 級 Gap 變化無法察覺,OEE 因頻繁取料失敗低於 70%。

SOLUTION · 應用方案

本案採用 Cognex In-Sight 3800 高解析機器視覺系統 + PatMax µm 級量測整合自動取料站:相機俯拍 Tray 盤堆疊側邊輪廓、PatMax 定位每層 Tray 基準、規則式量測層間 Gap 距離 + 平行度,超差時即時透過 PROFINET 通知取料機暫停並警示操作員,避免取料失敗或元件損傷。

RESULT · 導入成果

  • Gap 量測精度:5-20 µm 重複性(從無到有)
  • 取料機 OEE:85-95%(+15-25 pp)
  • 檢測速度:300-500 件/分(3-5 倍)
  • 人力配置:0.5-1 名(年省 NT$ 100-180 萬(視個案評估))

TL;DR · 一分鐘看懂本案

  • 場景:IPC-A-610 / ISO 9001 認證電子光電廠(連接器 / LED 模組 / IC 載板 / PCB 載盤製造商)Tray 盤堆疊自動取料站,60-500 件/分中高速產線
  • 痛點:Tray 盤因模具老化或夾持變形造成 µm 級 Gap 異常,自動取料機(SCARA / 視覺定位)取料失敗、停機 + 元件損傷雙重風險;人工目檢無法察覺,OEE < 70%
  • 方案:Cognex In-Sight 3800(5 MP 高解析)+ PatMax µm 級量測 + Edge Learning AI + PROFINET 即時取料機警示 + SPC 趨勢監控
  • 關鍵成效:Gap 量測 5-20 µm 重複性(從無到有)、取料機 OEE 60-70% → 85-95%(+15-25 pp)、檢測速度 3-5 倍、年省 NT$ 100-180 萬人力(視個案評估)
  • 關鍵決策點:Tray 材質(黑色 ESD / 透明 PC / 金屬框)的光學配置差異大,必先做 POC 確認;多 SKU 廠商建議於 POC 階段收齊所有 Tray 變異樣本

資料說明:本案例 A 廠 / B 廠等為代號標示,KPI 數字為類似專案的典型成效範圍,實際依專案有所差異;資料來源:VSK 內部 POC 紀錄。如需細部資料,請聯絡 VSK 業務

客戶背景

A 廠(電子光電業):IPC-A-610 / ISO 9001 認證的連接器 / LED 模組 / IC 載板 / PCB 載盤製造商,使用 ESD 防靜電 Tray 盤堆疊承載元件後段組裝。產線特性 60-500 件/分鐘自動取料速度(依元件大小與堆疊高度而定),三班制運轉。品質壓力包含 Tray 模具老化造成 µm 級 Gap 異常 → 自動取料機吸取失敗 → 產線停機 + 元件損傷;多 SKU Tray 切換時殘留前批次 Gap 設定造成系統性錯誤;法規 / 規範要求涵蓋 IPC-A-610 電子組裝品質、ISO 9001 品質管理系統、ESD 防靜電管制(IEC 61340-5-1)。

常見的 Tray 盤 Gap 異常可分為以下幾類:

  • Tray 模具老化 Gap 漸增:射出模具熱循環疲勞 → 層間距離超出設計 ±50 µm
  • 夾持變形:堆疊夾具壓力不均造成中段 Gap 異常
  • Tray 翹曲:高溫環境造成 PC / PE 材質形變
  • 異形 Tray 混入:SKU 切換時殘留前批次規格 Tray
  • Tray 破損 / 缺角:搬運過程碰撞造成局部變形

純人工目檢無法察覺 µm 級 Gap 變化,自動取料機只能在實際吸取失敗後才知道有問題,往往已造成 3-10 顆元件損傷或產線停機 5-15 分鐘。且 IPC-A-610 / ISO 9001 要求每批次 Tray 規格紀錄可追溯,紙本記錄已無法滿足稽核強度。

系統配置

本案採用 Cognex In-Sight 3800 高解析機器視覺系統整合自動取料機前 Tray 盤量測站,完整配置如下:

  • 視覺主機:Cognex In-Sight 3800(5 MP 高解析智慧相機,內建 PatMax + Edge Learning + HDR Multi-exposure)
  • 光學設計:同軸光(黑色 ESD Tray 邊緣凸顯)+ Dark Field 低角度光(突顯 Gap 邊界)+ 背光(透明 Tray 輪廓)+ HDR Multi-exposure(拉動態範圍)
  • 觸發機制:Tray 堆疊到位光電開關觸發 Strobe LED 凍結畫面(曝光 50-200 μs)
  • 通訊介面:PROFINET / Ethernet/IP / Modbus TCP / OPC UA 與自動取料機 / SCARA / MES / SPC 資料庫對接
  • 影像追溯:每層 Gap 量測值 + 影像 + Tray SKU + 批號 + 時間自動歸檔,符合 ISO 9001 / IPC-A-610 稽核

演算法組合(單張影像並聯執行):

  • PatMax 形狀對位:µm 級重複性定位每層 Tray 基準(標稱層間距離)
  • 規則式量測(Caliper / Distance Tool):量測層間 Gap 距離 + 平行度,超出公差 ±50 µm 即輸出 NG 訊號
  • Edge Learning AI:學習「正常 Tray / 翹曲 / 破損 / 異形」四類,每類 10-20 張起步

商業價值

  • OEE 躍升:自動取料機 OEE 由 60-70% 提升至 85-95%(+15-25 pp),減少取料失敗 + 元件損傷
  • 品質提升:Tray Gap 異常提前攔截避免元件損傷,單次預警可省 NT$ 5-30 萬(視個案評估)
  • 產能釋放:自動化量測釋放 2-3 名 QC 人力至更高附加價值的工作
  • 追溯完整:每盤 Gap 量測值 + 影像 + SKU 可追溯,IPC-A-610 / ISO 9001 稽核資料齊備
  • ROI 回收:依產線規模 6-15 個月回收期,VSK 可依您的取料失敗頻率、元件單價、停機損失試算具體回收時程

Tray 盤 Gap 檢測的失敗模式分析

Tray 盤 Gap µm 級量測在電子光電產線的失敗模式可歸為四類。第一,Tray 材質光學配置差異大 — 黑色 ESD 塑膠(低反光、邊緣模糊)/ 透明 PC(折射複雜)/ 金屬框(高反光),同軸光、Dark Field、背光在不同 Tray 表現差異很大,需於 POC 階段以實際 Tray 樣品測試最佳組合。第二,µm 級量測 Gauge R&R 要求 — 要達到 5-20 µm 重複性,相機解析度(5 MP)+ 鏡頭工作距離 + 光源穩定度需協同設計;POC 階段需以您的 Tray 樣品做 Gauge R&R 驗證(建議 10 件 × 3 次重複量測 × 2 操作員)。第三,多 SKU Tray 配方建立的工程量 — 連接器 / LED / IC 載板 / PCB 載盤 Tray 規格各異,每 SKU 需獨立 PatMax 模板 + Gap 公差設定;POC 階段需與品保工程師規劃 SKU 優先順序。第四,環境光與機構振動 — 取料機運作振動可能造成 Tray 位置漂移 ±1-3 mm,視覺工具的 ROI 浮動定位(PatMax)+ 機構治具夾持需協同設計。

降低失誤的工程實務:POC 階段須收齊邊界 Tray(模具老化中度 Gap 超差 ±30 µm、輕度翹曲、新舊批次顏色差異)作為容差設定基準;光源 over-design 比 POC 需求高 30-50% 強度與均勻度;定期維護每月清潔鏡頭與光源、追蹤 Gap 量測值 SPC 趨勢圖;ISO 9001 / IPC-A-610 對追溯的要求由整合方主導,VSK 提供視覺端的量測穩定度與 Gauge R&R 報告。

為什麼選擇 Cognex PSI 系統整合商

機器視覺導入的成敗,遠超過「相機規格表上的數字」。VSK 威視康累積在台灣電子光電 / 食品飲料 / 製藥 / 汽車 / 半導體製造業 10 年以上的整合經驗中,反覆觀察到三個關鍵失敗點:第一,沒做 POC 直接下單,產線上線後才發現 Tray 材質光學不穩、µm 級重複性達不到、節拍跟不上。第二,光源沒有 over-design 餘量,產線環境光變化(季節 / 班別)+ Tray 批次差異後辨識率明顯下降。第三,視覺與機構 / I/O 分工模糊,整合方對 PROFINET / EtherNet/IP / OPC UA + 自動取料機 PLC 介接不熟悉導致延宕。Cognex PSI(Premier Solution Integrator)認證的訓練重點,正是上述三項:以系統化方法做 POC 評估、依產線實況設計光源餘量、與設備工程師對接 I/O 與通訊細節。

導入後的服務模式:VSK 設備保固 1 年(自出貨日起算),教育訓練依專案客製。

相關常見問題(連到完整解析)

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延伸閱讀

本案例涉及之 電子光電視覺檢測、Tray 盤 Gap 間距 µm 級量測、CCD 機器視覺、PatMax 形狀對位、Edge Learning AI、AOI 自動光學檢測、智慧工廠相關方案,VSK 威視康可依現場提供 Cognex 設備選型建議。電子光電視覺自動化導入請來電 +886 2-8809-3200。

FAQ · 客戶常見問題

關於這個案例的常見問題

Tray 盤 Gap 檢測 Cognex In-Sight 3800 方案多少錢? +
機器視覺系統方案(單站、含 5 MP 相機 + 微距鏡頭 + 同軸光 + 自動取料機整合)整體投資在 NT$ 50-110 萬之間(視個案評估)(含 In-Sight 3800 + 鏡頭 + 光源 + 整合設計 + 教育訓練);若需多角度補拍、SPC 資料庫整合、多 SKU 配方,視整合複雜度而定。VSK 提供 POC 後客製報價。
µm 級 Gap 量測精度怎麼達到? +
Cognex In-Sight 3800(5 MP)+ 微距鏡頭 + 同軸光配置可達 5-20 µm 量測重複性。實際精度依視野(FOV)與工作距離而定 — 較小 FOV / 較近工作距離得到更高精度。POC 階段 VSK 工程師會以您的 Tray 樣品量化視覺端重複性 / 再現性,作為客戶端 Gauge R&R 分析素材。
Tray 反光 / 透明 / 暗色材質會影響檢測嗎? +
Tray 材質常見 ESD 防靜電黑色塑膠 / 透明 PC / 銀色金屬框,光學特性差異大。VSK 標準作法:黑色 Tray 用同軸光 + Dark Field 凸顯邊緣、透明 Tray 用背光屏蔽、金屬框用偏振抑制鏡面反射。實際光學配置由 POC 階段以您的樣品實拍確認。
Tray 多 SKU(不同尺寸 / 層數)切換能應付嗎? +
Cognex In-Sight 3800 內建配方庫支援數百種配方並存,操作員透過 HMI 條碼掃描或下拉選單 10 秒切換。每 SKU 的 Tray 基準位置 / Gap 公差 / 層數設定獨立綁定。新 Tray 型號需建立配方(補 5-10 張樣本實拍 + PatMax 模板建立),約 30-60 分鐘完成。
與 SPC(統計製程管制)整合如何做? +
Cognex In-Sight 3800 可透過 OPC UA / Ethernet/IP 即時輸出每層 Gap 量測值到 SPC 系統 / SQL Server / MES,建立 X̄-R 控制圖追蹤 Tray 模具老化趨勢。預警 Tray 模具壽命將至,提前更換避免大批量元件損傷。
與自動取料機(SCARA / 視覺定位機)整合介面? +
Cognex In-Sight 3800 原生支援 PROFINET / EtherNet/IP / Modbus TCP / TCP/IP,與 SCARA 機械手 / 視覺定位機 / 真空吸取機構 PLC 對接,量測 NG 訊號傳遞延遲 < 10 ms。VSK 工程師協助 I/O 規格書建立。
無塵室規格的設備如何選? +
Tray 盤檢測通常位於 ISO Class 7 / 8 無塵室,Cognex In-Sight 3800 IP54 等級 + 304 不鏽鋼外殼 + 防塵接頭可滿足;接線端 / 散熱口需評估,VSK 提供 Cognex 設備規格表(IP 等級、材質、防塵能力)供客戶端無塵室工程師評估。
AI 模型部署後會自己退化嗎? +
不會自動退化。Cognex Edge Learning / ViDi 是「離線學習」模型,部署後不會自動再訓練;但產線環境變化(光源老化 / 鏡頭髒污 / 工件批次差異)會讓辨識率漸進下降。建議每月清潔鏡頭光源 + 抽樣 100 件對照 AI 判斷,必要時補訓練。完整維護建議見 Edge Learning 詞彙頁
REFERENCES · 引用標準與規範

📚 案例引用標準

本案例涉及之國際 / 在地標準與規範(標準內容請洽各主管機關官方來源):

  • IPC-A-610 電子組裝品質
  • ISO 9001 品質管理系統
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