軸向不均（ANU）量的是什麼？
1D 條碼只有一個方向會變形，2D 碼（Data Matrix、QR）卻同時用「高」和「寬」兩個軸承載資料。軸向不均（Axial Nonuniformity, ANU）就是在量這兩個軸是不是被不對稱地拉伸或縮放——白話說，本來該是正方形的模塊（dots／squares）有沒有被印成長方形。
它評的是整顆碼的「長寬比是否走樣」：驗證機把碼還原成理想格點後，比對模塊在高方向與寬方向的尺度差異，差越大、ANU 分數越低。ISO 15415（標籤印刷 2D 碼）與 ISO 29158／AIM DPM（直接零件標記 DPM）共用這個參數，因為不管是噴印標籤還是雷射／點針打在金屬件上，單軸變形都會直接威脅可讀性。
ISO 15415／ISO 29158 怎麼評 ANU？
ANU 是一個「分級參數」，由高到低給等第，越接近正方形（高寬一致）越好。驗證機把每個模塊的中心點還原成格點，量出高、寬方向的尺度不一致程度後給出該項等第。
要記住 ISO 的總評規則：整顆碼的最終等級＝所有參數中最差的那一項，不是平均。所以就算對比、調變都漂亮，只要 ANU 因為單軸拉長被壓低，整顆碼的總評就被它拖下去。
ANU 與其他幾何類參數（Grid Nonuniformity 格點不均、Fixed Pattern Damage 固定圖案損傷）一起描述碼的「幾何健康度」，是 2D 驗證報告必看的一欄。
※ 各等級的確切數值門檻，以 ISO/IEC 15415、ISO/IEC TR 29158 標準本文與驗證機報告為準（本文不臆造數字）。公開資料顯示 ANU 採 4.0（A）至 0.0（F）的分級尺度。
為什麼 ANU 會失分？
軸向不均失分，幾乎都指向「某一個軸被多走了一段」的製程問題：
- 列印／標記速度太快——公開來源最常點名的可調因素之一。輸送或印頭速度過快，碼在運動方向被拉長，模塊變成長方形。
- 速度與碼尺寸不匹配——印速沒配合符號的設定尺寸，單軸被系統性放大或壓縮。
- 印刷／標記軟體或參數設定問題——軟體把某一軸的縮放比設錯，輸出整顆碼長寬比走樣。
- 基材或運動方向的張力／滑動——標籤拉伸、零件在標記時相對位移，造成一個方向的尺度偏移。
共同特徵：失分來自單一軸向的拉伸或縮放，而不是整體變淡或局部污損——這正是 ANU 與對比、調變類參數的分工。
怎麼把 ANU 救回來？
方向是「讓兩軸尺度回到一致」，從製程下手：
- 放慢列印／標記速度——公開資料對 ANU 降級的第一建議就是把印表機／標記機速度降下來，讓運動方向不再被拉長。
- 讓速度匹配碼尺寸——重新校準印速與符號設定尺寸，避免單軸被系統性放大。
- 檢查標記軟體的縮放／長寬比設定——確認 X、Y 縮放比正確，輸出回到正方模塊。
- 穩定基材與零件——降低標籤張力、固定零件治具，消除標記過程中的單軸滑動或拉伸。
- 對 DPM（點針／雷射）件——調整點距、打點力道與掃描路徑，避免某一方向間距被拉開；ANU 走樣往往伴隨打點節距偏差。
調整後用驗證機重測：ANU 是製程穩定度的敏感指標，一旦速度／節距校準到位，分數通常能明顯回升。
© vision systems / Wikimedia Commons · CC BY-SA 2.0 DE
ISO 15415 對 Axial Nonuniformity 的定義
Axial Nonuniformity (AN、軸向不均勻性) 為 ISO/IEC 15415 定義的 2D 條碼品質參數之一、量測條碼水平 (X) 與垂直 (Y) 軸方向 module 尺寸的差異：
- AN = |Xavg - Yavg| / ((Xavg + Yavg) / 2)
- A 級：AN ≤ 0.06
- B 級：AN ≤ 0.08
- C 級：AN ≤ 0.10
- D 級：AN ≤ 0.12
- F 級：AN > 0.12
常見失分原因：印刷 / 雷射蝕刻時材料延展、列印頭速度不均、機械振動造成的 axial 拉伸〔來源:ISO/IEC 15415〕。
| Grade | 分數 | 長寬比變形 | 適用場景 |
|---|---|---|---|
| A | 4.0 | 幾乎無單軸拉伸 | 醫療 UDI、高品質要求 |
| B | 3.0 | 輕微 ANU、不影響讀取 | 汽車 IATF 16949 可接受 |
| C | 2.0 | 中度單軸變形 | 物流追溯、可接受 |
| D | 1.0 | 明顯單軸拉長 | 不建議用於關鍵應用 |
| F | 0.0 | 嚴重變形、不可讀 | 需重新打標 |
延伸學習：了解 ISO 15415 / 29158 條碼品質參數在醫療器材 UDI 合規檢測的應用，含 Cognex 機型選型與案例對應。
工程師常見問題
Q1：軸向不均（ANU）量的是什麼？
A：1D 條碼只有一個方向會變形，2D 碼（Data Matrix、QR）卻同時用「高」和「寬」兩個軸承載資料。 軸向不均（Axial Nonuniformity, ANU） 就是在量這兩個軸是不是被不對稱地拉伸或縮放——白話說， 本來該是正方形的模塊（dots／squares）有沒有被印成長方形 。
Q2：要驗條碼品質、接 ISO 等級輸出？
A：提供 OK / NG 條碼樣本，VSK 工程師依 ISO 15415 / 29158 評估可行性與選型，盡快與您聯繫。
Q3：軸向不均失分如何救？
A：通常因 DPM 打標時雷射或針點壓印對單軸施力不均、或工件曲面導致投影變形、或鏡頭畸變放大不對稱失真。救法：穩定打標製程、用遠心鏡頭減少透視、避免曲面 DPM、用 PowerGrid 演算法強化讀取。
Q4：軸向不均對 1D 條碼有影響嗎？
A：ANU 只評 2D 條碼（DataMatrix、QR），因為 1D 條碼只有單軸資料（水平條紋），不存在兩軸不對稱的問題。1D 條碼的對應參數是 Edge Determination 與 Symbol Width Growth。
Q5：理想 ANU 值是多少？
A：ISO 15415 要求 ANU ≤ 0.06（依 ISO 標準分級）通常為 Grade A，但實務上不同產業有不同接受門檻。具體門檻請參考 ISO 15415 / 29158 標準本文與驗證機輸出報告為準。
